• 专利附录
  • 专利说明
  • 权利要求
  • 类似技术
  • 同族专利
  • 引用文献
  • 法律状态
  • 优先权
    • 专利摘要:

    公开号:WO1986005877A1
    申请号:PCT/DE1986/000135
    申请日:1986-03-29
    公开日:1986-10-09
    发明作者:Tetsuo Hadeishi
    申请人:Grün-Optik Wetzlar Gmbh；
    IPC主号:G01N21-00
    专利说明:
    [0001] Absorptionsspektrometer mit mehreren, nacheinander aktivierbaren Spektrallichtquellen.
    [0002] Die Erfindung betrifft ein Absorptionsspektrometer nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1
    [0003] Absorptionsspektrometer besitzen zumindest eine Spektrallichtquelle, deren Strahlung von einer zu untersuchenden Probe in spezifischer Weise absorbiert wird. Bei Kenntinis der Dichte und des durchstrahlten Proben¬ volumens läßt sich z. B durch Messung der wellenlängenabhängigen Ab¬ sorption die Probe identifizieren. Die Absorption ist das Verhältnis der eingestrahlten Lichtintensität zur von der Probe durchgelassenen Licht¬ intensität. Es ist daher bei jeder Messung eine Refεrenzmessung ohne Probe erforderlich. Dieses Verfahren ist bei jeder eingestellten Wellen¬ länge der Spektrallichtquelle zu wiederholen.
    [0004] Häufig sind in einem Absorptionsspektrometer mehrere Spektrallichtquel- lεn, meist Linienstrahler, vorgesehen, deren I issionsspektren den Absorptionsspektren der zu untersuchenden Proben besonders angepaßt sind. Die I issionsintensitäten der einzelnen Strahlen sind bei glei¬ chen Betriebsbedingungen sehr unterschiedlich, so daß sich z. T. nun Größenordnungen ändernde Signalpegel ergeben, wenn die Strahler nach¬ einander für die Messung aktiviert werden. Das stellt bei der Nachweis- und Auswerteelektronik sehr hohe Aunforderungen an die Linearität, die häufig nicht erfüllt werden können.
    [0005] Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung anzugeben, mit der die Intensitäten der unterschiedlichen Strahler in einfacher und schneller Weise einander beliebig angeglichen werden können, ohne an den Betriebsbedingungen der Strahler etwas ändern zu müssen. Diese Aufgabe wird bei einem Absorptionsspektrometer der eingangs ge¬ nannten Art erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des An¬ spruchs 1 genannten Merkmale gelöst. Eine vorteilhafte Ausgestaltung ergibt sich durch die im Anspruch 2 genannte stromgesteuerte Phasen- verschiebeplatte.
    [0006] Ein Ausführungsbeispiel wird nachfolgend anhand der Zeichnung beschrie¬ ben.
    [0007] Die Zeichnung zeigt in schematischer Darstellung den Teil zur Erzeugung der Meßstrahlung in einem Absorptionsspektrometer. In dem Beispiel sind vier Linienstrahler 1, 2, 3, 4, z. B. Hg-, Zn-, Se-Spektrallampen, vor¬ gesehen, die mit Hilfe eines Blendenschiebers 5 nacheinander aktiviert werden können. Ihre Strahlung wird über Spiegel 6, 7, 8, 9 in einem ge¬ meinsamen Meßstrahleπgang 10 zusammengeführt.
    [0008] In den Meßstrahlengang ist zunächst ein Polarisator 11 und ein Analysa- tor 12 eingefügt, die in üblicher Weise mit ihren Polarisations¬ richtungen zueinander gekreuzt sind. Zwischen ihnen ist eine stromge¬ steuerte Phasenverschiebeplatte (13) eingefügt, wie sie z. B. aus dem DE-Gbm 7824044 bekannt ist. Diese Vorrichtung enthält einen unter mechanischem Druck stehenden Quarzstab. Der Druck wird durch das Joch eines Elektromagneten erzeugt und kann damit in einfacher Weise variiert werden. Die Spannungsdoppelbrechung in dem Quarzstab erzeugt eine Phasenverschiebung zwischen ordentlichem und außerordentlichem Strahl, so daß eine Drehung der Polarisationsrichtung des eintretenden Meßlicht¬ strahlenbündels resultiert und ein entsprechender Strahlungsanteil den Analysator passieren kann. Ein Teil des hindurchtretenden Meßstrahl¬ bündels wird mit Hilfe eines Teilerspiegels 14 mit bekanntem Teilungs¬
    verhältnis ausgekoppelt und in einem Multiplier 15 in ein der Strahlungsintensität entsprechendes Signal umgewandelt und als Hin¬ gangssignal einer Schaltungsanordnung 16 zugeführt. In αie Schaltungsanordnung 16 können Referenzwerte eingegeben werden, aus denen durch Vergleich mit dem Meßsignal ein Regelsignal gebildet wird, das den Druck auf den Quarzstab in der Vorrichtung 13 so steuert, daß bei Aktivierung der Strahler 1 bis 4 gleiche Lichtintensitäten in die schematisch angedeutete Absorptionskammer 17 eintreten. Auch schwan¬ kende Intensitäten eines Strahlers können auf diese Weise ständig ausgeregelt werden, so daß eine besondere Stabilisierung der Versor¬ gungsspannungen entfallen kann.
    权利要求:
    Claims

    Patentansprüche
    1) Absorptionsspektrometer mit mehreren nacheinander aktivierbaren Spektrallichtquellen, dadurch gekennzeichnet, daß
    a) in den gemeinsamen Meßstrahlengang (10) aller Lichtquellen (1,2, 3,4) eine Vorrichtung eingefügt ist, die
    b) aus einem Polarisator (11), einem die Polarisationsrichtung steuerbar drehenden Bauelement (13), einem Analysator (12) und einem diesem nachgeordneten, geneigt zum Meßstrahlengang stehen¬ den Teilerspiegel (14) besteht, daß
    c) in dem durch den Teilerspiegel (14) aus dem Meßstrahlengang (10) ausgekoppelten Strahlengang eine Lichtmeßeinrichtuπg (15) ange¬ ordnet ist und daß
    d) der Lichtmeßeinrichtung (15) eine Schaltungsanordnung (16) nach¬ geordnet ist, die das die Polarisationsrichtung drehende Bauele¬ ment (13) so steuert, daß die gemessene Lichtintensität bei allen Lichtquellen der einer vorgegebenen Lichtquelle gleich ist.
    2) Absorptionsspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als die Polarisationsrichtung drehendes Bauelement (13) eine strom¬ gesteuerte Phasenverschiebeplatte vorgesehen ist.
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    同族专利:
    公开号 | 公开日
    DE3511253A1|1986-10-02|
    EP0215076A1|1987-03-25|
    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    1986-10-09| AK| Designated states|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): JP US |
    1986-10-09| AL| Designated countries for regional patents|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): AT BE CH DE FR GB IT LU NL SE |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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